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AleaderAOI檢測儀-Match2算法

論文神州視覺2014年04月02日次瀏覽

  Aleader算法詳解——Match2算法

  Match2算法,是Match算法的延伸,是神州視覺AOI 20多種檢測算法中一種特殊的算法,主要用于檢測本體是否偏移。

  Match2算法可分為基于基板的定位方式和非基板的定位方式。其中基于基板的定位方式是一種雙定位方式,如下圖:

  AleaderAOI檢測儀-Match2算法

 

 

  上圖中紅色框是基于基板的定位框,白色框是基于本體的定位,而基于本體的定位方式在基于基板的定位基礎上,在限定的搜索范圍內搜索最優定位點。根據兩個定位框的相對偏移,計算其相對偏移值,作為真實偏移值。其偏移值的計算示意圖如下:

  

AleaderAOI檢測儀-Match2算法

 

  上圖中①為標準示意圖,②為待測偏移示意圖。如①區域中基板定位框的中心點坐標為(X, Y),本體定位框的中心點坐標為(X1, Y1)。則標準相對偏移為(DDx, DDy),則計算公式如下:

  DDx = X1 – X

  DDy = Y1 – Y

  當待測本體定位框偏離待測基本定位框(DDx, DDy)時,則實際偏移為(0, 0)。B區域中基板定位框的中心點坐標為(XX, YY),本體定位框的中心點坐標為(XX1, YY1)。則標準相對偏移為(DDx1, DDy1),則計算公式如下:

  DDx1 = XX1 – XX

  DDy1 = YY1 – YY

  則待測元件的實際偏移為(Dx, Dy),計算公式如下:

  Dx = DDx1 – DDx

  Dy = DDy1 – DDy

  通過判斷(Dx,Dy)的范圍來確定元件是否發生偏移。

  Match2算法中基于本體框的定位模式有兩種,分為為單框定位模式和雙框組合定位模式。如下:

  AleaderAOI檢測儀-Match2算法AleaderAOI檢測儀-Match2算法

 

  

 

 

  

 

 

  上圖中①為單框定位模式,與Match算法一致;②為雙框組合定位模式,定位區域由B區域中的實線單框和虛線單框組合而成,兩個框的組合區域為有效定位區域。

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